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Fitxa tècnica d'una assignatura en una titulació

12726 Laboratori d'Estat Sòlid i Semiconductors - M.FÍSICA AVANçADA, ESP. FOTÓNICA


Centre
Servei d'Estudiants-Màster
Departament
Física Aplicada i Electromagnetisme
Professor responsable
Sin datos cargados
Met. Docent
Sesiones de laboratorio en las que se realiza una práctica: explicación, toma de datos y análisis preliminar. Además de tres sesiones de elaboración de datos y resolución de problemas en el mismo laboratorio.
Met. Avaluació
La evaluación se basará en dos conceptos:- Obligatorio: Control periódico de los resultados de cada práctica (80 %). Y Opcional: exposición oral de los fundamentos, resultados y conclusiones de una de las prácticas (20 %).
Bibliografia
- "Introduction to solid state physics", C. Kittel, Ed. John Wiley,
1976.

- "Solid state physics", H. Ibach, H. Lüth, Ed. Springer-Verlag, Berlín, 1995.

- "Physics of semiconductor devices", S.N. Sze, Ed. John Wiley, New York, 1981.

- "Fundamentos de electrónica física y microelectrónica", J.M. Albella, J.M. Martínez-Duart, Ed. Addison-Wesley/U.A. Madrid, 1996.

Continguts
1) Estudio de las redes de Bravais y estructuras cristalinas.

2) Simulación de la difracción de Rayos X

3) Simulación de las vibraciones en los sólidos mediante un sistema mecánico de osciladores acoplados: ramas acústica y óptica.

4) Medida de las propiedades de transporte en semiconductores en función de la temperatura.

5) Medida del coeficiente de absorción de los semiconductores y determinación de la banda prohibida en función de la temperatura.

6) Medidas de calor específico en sólidos. Determinación de la temperatura de Debye.

7) Materiales ferroeléctricos. Determinación de la temperatura de Curie.

8) Caracterización de dispositivos semiconductores. Medida de las características I(V) en función de la temperatura.

9) Caracterización de fotodiodos y células solares.Medida de la respuesta fotovoltaica.

Objetius
Introducción a las técnicas de medida de las propiedades básicas de los sólidos, con especial incidencia en los semiconductores y en las técnicas de caracterización de los dispositivos electrónicos.
URL de Fitxa
http://www.uv.es/elecfis/fisol/Fisol.htm